X-ray line profile analysis-An ideal tool to quantify structural parameters of nanomaterials

Michael B. Kerber, Michael J. Zehetbauer, Erhard Schafler, Florian C. Spieckermann, Sigrid Bernstorff, Tamas Ungar

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

35 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
FachzeitschriftJOM
Jahrgang63
Ausgabenummer7
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Juli 2011
Extern publiziertJa

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