TOF-SIMS depth profiling and element mapping on oxidized AlCrVN hard coatings

Titel in Übersetzung: TOF-SIMS depth profiling and element mapping on oxidized AlCrVN hard coatings

J. Schnöller, Robert Franz, Christian Mitterer, H. Hutter

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

6 Zitate (Scopus)
Titel in ÜbersetzungTOF-SIMS depth profiling and element mapping on oxidized AlCrVN hard coatings
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1857-1861
FachzeitschriftAnalytical and bioanalytical chemistry
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009

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