Originalsprache | Englisch |
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IPC | G01B11/04 |
Prioritätsdatum | 12/12/06 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 19 Juni 2008 |
SYSTEM AND METHOD FOR THE DEFECT ANALYSIS OF WORKPIECES
Paul O'Leary (Erfinder), Beata Oswald-Tranta (Erfinder)
Publikation: Patent › Patentschrift