| Titel in Übersetzung | Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB |
|---|---|
| Originalsprache | Deutsch |
| Titel | Handbuch der Nanoanalytik |
| Seiten | 199-200 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2005 |
Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB
Christian Motz, Daniel Kiener, Thomas Schöberl, Reinhard Pippan, Gerhard Dehm
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung