Scanning electron microscope: An essential equipment of failure analysis

Michael Panzenböck, Caroline Freitag, Gerhard Hawranek, Francisca Mendez Martin, Boryana Rashkova

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2018
VeranstaltungMicroscopy & Microanalysis - Baltimore, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 5 Aug. 20189 Aug. 2018

Konferenz

KonferenzMicroscopy & Microanalysis
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtBaltimore
Zeitraum5/08/189/08/18

Dieses zitieren