Rapid determination of stress factors and residual stresses in anisotropic thin films

Titel in Übersetzung: Rapid determination of stress factors and residual stresses in anisotropic thin films

Klaus-Jürgen Martinschitz, Ernst Eiper, Jozef Keckes

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Titel in ÜbersetzungRapid determination of stress factors and residual stresses in anisotropic thin films
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006
Veranstaltung55th Annual Denver X-ray Conference - Denver, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 7 Aug. 2006 → 11 Aug. 2006

Konferenz

Konferenz55th Annual Denver X-ray Conference
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtDenver
Zeitraum7/08/06 → 11/08/06

Dieses zitieren