Nanoscale residual stress depth profiling by focused ion beam milling and eigenstrain analysis

Alexander M. Korsunsky, E. Salvati, A.G.J. Lunt, T. Sui, Z.M. Mughal, Rostislav Daniel, Jozef Keckes, E. Bemporad, M. Sebastiani

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

37 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)55-64
FachzeitschriftMaterials and Design
Jahrgang145
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2018

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