Indentation response of a superlattice thin film revealed by in-situ scanning X-ray nanodiffraction

J. Todt, C. Krywka, Z.L. Zhang, P.H. Mayrhofer, J. Keckes, M. Bartosik

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)425-432
Seitenumfang8
FachzeitschriftActa Materialia
Jahrgang195.2020
Ausgabenummer15 August
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 29 Mai 2020

Dieses zitieren