Fokussierte Ionenstrahl-Technik (FIB) in der Mikro- und Nanomechanik

Christian Motz, Daniel Kiener, Thomas Schöberl, Reinhard Pippan, Gerhard Dehm

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Buch/SammelbandForschung

Titel in ÜbersetzungFokussierte Ionenstrahl-Technik (FIB) in der Mikro- und Nanomechanik
OriginalspracheDeutsch
TitelHandbuch der Nanoanalytik
Seiten162-163
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005

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