Eigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie

Jozef Keckes, Ernst Eiper

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Buch/SammelbandForschung

Titel in ÜbersetzungEigenspannungs-Charakterisierung mittels Röntgendiffraktometrie
OriginalspracheDeutsch
TitelHandbuch der Nanoanalytik
Seiten147-149
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005

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