Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate

Titel in Übersetzung: Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate

R.A. Coppeta, H Ceric, David Holec, T. Grasser

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

2 Zitate (Scopus)
Titel in ÜbersetzungCritical thickness for GaN thin film on AlN substrate
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2013
VeranstaltungInternational Integrated Reliability Workshop - Fallen Leaf Lake, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 13 Okt. 2013 → 17 Okt. 2013

Konferenz

KonferenzInternational Integrated Reliability Workshop
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtFallen Leaf Lake
Zeitraum13/10/13 → 17/10/13

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