A versatile atomic force microscope integrated with a scanning electron microscope

Joseph Kreith, T. Strunz, E.J. Fantner, G.E. Fantner, Megan Cordill

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

16 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer053704
FachzeitschriftReview of scientific instruments
Jahrgang88
Ausgabenummer5
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2017

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