A cantilever method to determine depth profiles of residual stresses on the nanoscale

Titel in Übersetzung: A cantilever method to determine depth profiles of residual stresses on the nanoscale

Stefan Massl, Jozef Keckes, Reinhard Pippan

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

Titel in ÜbersetzungA cantilever method to determine depth profiles of residual stresses on the nanoscale
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006
VeranstaltungGordon Research Conference on thin film & small scale mechanical behavior 2006 - Waterville, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 30 Juli 20064 Aug. 2006

Konferenz

KonferenzGordon Research Conference on thin film & small scale mechanical behavior 2006
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtWaterville
Zeitraum30/07/064/08/06

Dieses zitieren