Topographic and electrical nanometer structure characterization by atomic force microscopy and conductive AFM

Aktivität: Sonstige › Externes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)

Beschreibung

Tutorial
Zeitraum18 Aug. 2016
Gehalten amDepartment of Physics, Sook-Myung Women's University, Seoul, Südkorea