Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII, Electronic Imaging, Science and Technology

  • Mark Tratnig (Redner/-in)

Aktivität: Teilnahme an oder Organisation einer Veranstaltung › Konferenzteilnahme

Zeitraum17 Jan. 2005 → 20 Jan. 2005
VeranstaltungstypKonferenz
OrtSan Jose, USA / Vereinigte Staaten, KalifornienAuf Karte anzeigen