Schlagwörter
- TiAl, C-AFM, KPFM
Atomic force microscopy based electrical characterization of multiphase intermetallic TiAl alloys
- Kratzer, M. (Redner)
- Huszar, M. (Beitragende/r)
- Lisa Maria Tengg (Beitragende/r)
- Clemens, H. (Beitragende/r)
- Svea Mayer (Redner)
- Teichert, C. (Beitragende/r)
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation