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AFM based investigation and manipulation of organic nanocrystals on 2D materials
Teichert, C.
(Gastredner)
Lehrstuhl für Physik (460)
Aktivität
:
Gespräch oder Vortrag
›
Mitwirkung als Gastredner/-in
Zeitraum
10 Okt. 2018
→
12 Okt. 2018
Ereignistitel
2018 Nanoscientific Forum Europe: Scanning Probe Microscopy (SPM)
Veranstaltungstyp
Konferenz
Ort
Freiberg, Deutschland
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Bekanntheitsgrad
International
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